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SNJ54BCT8373AJT

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專業(yè)邏輯

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T

參數(shù)名稱參數(shù)值
Product StatusActive
Logic TypeScan Test Device with D-Type Latches
Supply Voltage4.5V ~ 5.5V
Number of Bits8
Operating Temperature-55°C ~ 125°C
Mounting TypeThrough Hole
Package/ Case24-CDIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package24-CDIP

新聞資訊

Texas Instruments 專業(yè)邏輯 產(chǎn)品 SNJ54BCT8373AJT

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