
SN74BCT8374ADWRG4
¥0.00
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
參數(shù)名稱(chēng) | 參數(shù)值 |
---|---|
Product Status | Obsolete |
Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
Number of Bits | 8 |
Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
Mounting Type | Surface Mount |
Package/ Case | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Supplier Device Package | 24-SOIC |
新聞資訊
Texas Instruments 專(zhuān)業(yè)邏輯 產(chǎn)品 SN74BCT8374ADWRG4
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